¼ø¹ø
| ¼ø¹ø |
±â¼ú/Á¦Ç° »çÁø |
±â¼ú/Á¦Ç°¸í |
¿¬±¸ºÐ¾ß |
±â¾÷¸í |
Áö¿ª |
µî·ÏÀÏ |
Á¶È¸¼ö |
| 238 |
 |
Àü±âÈÀç ¿¹¹æÀ» À§ÇÑ ¾ÆÅ©Â÷´ÜÀåÄ¡ |
Àü±â/ÀüÀÚ |
ÇìÄÚ |
¼¿ï |
2015-09-07 |
172 |
| 237 |
 |
´ÚÅÍÇöõÆ® |
¹ÙÀÌ¿À/ÀÇ·á |
(ÁÖ)µð¿¥¿¡½º |
°¿ø |
2015-09-04 |
1061 |
| 236 |
 |
Thermocouple Sensor & Instrumented Thermocouple Wafer |
Àü±â/ÀüÀÚ |
ÇÇ¿¡ÇÁÄÉÀÌ(ÁÖ) |
°æ±â |
2015-08-26 |
395 |
| 235 |
 |
¹ÙÀÌÁ¨ÇϿ콺 ¼öÁ¦¸ÆÁÖ |
³ó¸²/¼ö»ê/½Äǰ |
¹ÙÀÌÁ¨ÇϿ콺(ÁÖ) |
Ãæ³² |
2015-08-21 |
456 |
| 234 |
 |
SCAP, Chaser, FTA-SCM, Chemical-SCM, ºÐÀï°ú¿ï-SCM |
Á¤º¸Åë½Å |
¿¥¾ÆÀ̽ýº |
¼¿ï |
2015-07-30 |
373 |
| 233 |
 |
±âü¿ë Áú·®À¯·®°è ¹× ¿¡³ÊÁöÀ¯·®°è |
±â°è/¼ÒÀç |
¿£¹Ú |
´ëÀü |
2015-07-22 |
291 |
| 232 |
 |
Mult Purpose Inspection System |
±âŸ |
Á¦ÀÌ¿¥ÄÉÀÌ ³×Æ®¿÷½º |
°æ±â |
2015-07-22 |
308 |
| 231 |
 |
Ãʱ¤´ë¿ª ÀúÀâÀ½ ÁõÆø±â |
Àü±â/ÀüÀÚ |
ÆÒ¿Éƽ½º |
°æ±â |
2015-07-22 |
344 |
| 230 |
 |
3D¼Òȹè°ü ¼³°è ½Ã½ºÅÛ ¹× À̸¦ ÀÌ¿ëÇÑ ½Ã°ø¹æ¹ý |
°Ç¼³/±³Åë |
°Å¸²¼Ò¹æ(ÁÖ) |
°¿ø |
2015-07-21 |
880 |
| 229 |
 |
³ìÁ¶¹æÁö ¹× ¼öÁúÁ¤È °³¼± ÀåÄ¡ |
°Ç¼³/±³Åë |
ÇÑÀÏÀÌ¿¡½ºÆ¼ |
°æ±â |
2015-07-14 |
145 |